Εμφανίζονται 1 - 2 Αποτελέσματα από 2 για την αναζήτηση 'Ramirez Hurtado, Alberto Luis', χρόνος αναζήτησης: 0,01δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
    Evaluación de imágenes infrarrojas para muestras patrón de plexiglás, aluminio, acero y titanio: efecto de la emisividad

    Evaluación de imágenes infrarrojas para muestras patrón de plexiglás, aluminio, acero y titanio: efecto de la emisividad ανά Cruz Muñoz, Beatriz, Llamosa Rincón, Luis Enrique, Medina Barreto, Milton Humberto, Pinzón Candelario, Manuel, Ramirez Hurtado, Alberto Luis

    Έκδοση 2021
    Documento de Conferencia


  2. 2
    Aplicaciones de Métodos de Ensayo No-destructivos para el monitoreo y la cuantificación de defectos en metales: Termografía Activa Infrarroja por calentamiento mediante escalón de calor frente a métodos convencionales

    Aplicaciones de Métodos de Ensayo No-destructivos para el monitoreo y la cuantificación de defectos en metales: Termografía Activa Infrarroja por calentamiento mediante escalón de... ανά Cruz Muñoz, Beatriz, Llamosa Rincón, Luis Enrique, Medina Barreto, Milton Humberto, Pinzón Candelario, Manuel, Ramirez Hurtado, Alberto Luis

    Έκδοση 2021
    Documento de Conferencia


Εργαλεία αναζήτησης: