Microscopia de fuerza atómica: técnica, equipo y aplicaciones
Uno de los principales métodos de caracterización de superficies y películas delgadas es el de la microscopía de fuerza atómica, el cual permite obtener la morfología de la superficie desde el rango de los micrómetros y armstrong donde pueden hacerse medidas de tamaño de grano y rugosidad de la supe...
מחבר ראשי: | Sandoval, Santiago |
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פורמט: | Online |
שפה: | spa |
יצא לאור: |
Uptc
2013
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גישה מקוונת: | https://revistas.uptc.edu.co/index.php/semilleros_investigacion/article/view/1772 |
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