Microscopia de fuerza atómica: técnica, equipo y aplicaciones

Uno de los principales métodos de caracterización de superficies y películas delgadas es el de la microscopía de fuerza atómica, el cual permite obtener la morfología de la superficie desde el rango de los micrómetros y armstrong donde pueden hacerse medidas de tamaño de grano y rugosidad de la supe...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Sandoval, Santiago
Ձևաչափ: Online
Լեզու:spa
Հրապարակվել է: Uptc 2013
Առցանց հասանելիություն:https://revistas.uptc.edu.co/index.php/semilleros_investigacion/article/view/1772

Նմանատիպ նյութեր