Microscopia de fuerza atómica: técnica, equipo y aplicaciones
Uno de los principales métodos de caracterización de superficies y películas delgadas es el de la microscopía de fuerza atómica, el cual permite obtener la morfología de la superficie desde el rango de los micrómetros y armstrong donde pueden hacerse medidas de tamaño de grano y rugosidad de la supe...
Hoofdauteur: | Sandoval, Santiago |
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Formaat: | Online |
Taal: | spa |
Gepubliceerd in: |
Uptc
2013
|
Online toegang: | https://revistas.uptc.edu.co/index.php/semilleros_investigacion/article/view/1772 |
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