Microscopia de fuerza atómica: técnica, equipo y aplicaciones

Uno de los principales métodos de caracterización de superficies y películas delgadas es el de la microscopía de fuerza atómica, el cual permite obtener la morfología de la superficie desde el rango de los micrómetros y armstrong donde pueden hacerse medidas de tamaño de grano y rugosidad de la supe...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Sandoval, Santiago
বিন্যাস: Online
ভাষা:spa
প্রকাশিত: Uptc 2013
অনলাইন ব্যবহার করুন:https://revistas.uptc.edu.co/index.php/semilleros_investigacion/article/view/1772