Microscopia de fuerza atómica: técnica, equipo y aplicaciones

Uno de los principales métodos de caracterización de superficies y películas delgadas es el de la microscopía de fuerza atómica, el cual permite obtener la morfología de la superficie desde el rango de los micrómetros y armstrong donde pueden hacerse medidas de tamaño de grano y rugosidad de la supe...

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書誌詳細

第一著者:	Sandoval, Santiago
フォーマット:	Online
言語:	spa
出版事項:	Uptc 2013
オンライン･アクセス:	https://revistas.uptc.edu.co/index.php/semilleros_investigacion/article/view/1772