Microscopia de fuerza atómica: técnica, equipo y aplicaciones

Uno de los principales métodos de caracterización de superficies y películas delgadas es el de la microscopía de fuerza atómica, el cual permite obtener la morfología de la superficie desde el rango de los micrómetros y armstrong donde pueden hacerse medidas de tamaño de grano y rugosidad de la supe...

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書目詳細資料

主要作者:	Sandoval, Santiago
格式:	Online
語言:	spa
出版:	Uptc 2013
在線閱讀:	https://revistas.uptc.edu.co/index.php/semilleros_investigacion/article/view/1772