Uso de XPS como herramienta analítica para estudiar la contaminación por teflón en la preparación de catalizadores
Spa: En este trabajo se estudió mediante la Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), la presencia de flúor como contaminante en catalizadores de tipo Mo (VI)O2X24,4'-(Ln) anclado en TiO2 (Ln= dicarboxilato-2,2’-bipiridina; X= Cl, -OH). El estudio de la señal F 1s permitió evidenciar una...
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| Format: | Documento de Conferencia |
| Language: | spa |
| Published: |
2021
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| Online Access: | http://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/6614 |
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| author | Amaya Vesga, Alvaro Andrés Martínez Ortega, Fernando Martínez Quiñónez, Henry |
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| description | Spa: En este trabajo se estudió mediante la Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), la presencia de flúor como contaminante en catalizadores de tipo Mo (VI)O2X24,4'-(Ln) anclado en TiO2 (Ln= dicarboxilato-2,2’-bipiridina; X= Cl, -OH). El estudio de la señal F 1s permitió evidenciar una banda de alta intensidad ubicada a ≈689,3 eV, la cual hace referencia a flúor correspondiente a especies tipo –CF2– presentes en el teflón1 . Así mismo, el estudio de la señal C 1s permitió evidenciar una banda cercana a 292 eV relacionada al carbono de las especies –CF2–. La presencia de teflón en estos materiales puede ser causada por la acción del solvente empleado (benceno) sobre los diversos accesorios de teflón usados en la preparación de los catalizadores, dentro de los cuales se destaca la cinta de teflón, el agitador magnético y la llave de teflón. |
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| id | repositorio.uptc.edu.co-001-6614 |
| institution | Repositorio Institucional UPTC |
| language | spa |
| publishDate | 2021 |
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| spelling | repositorio.uptc.edu.co-001-66142022-08-03T22:53:28Z Uso de XPS como herramienta analítica para estudiar la contaminación por teflón en la preparación de catalizadores Amaya Vesga, Alvaro Andrés Martínez Ortega, Fernando Martínez Quiñónez, Henry Spa: En este trabajo se estudió mediante la Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), la presencia de flúor como contaminante en catalizadores de tipo Mo (VI)O2X24,4'-(Ln) anclado en TiO2 (Ln= dicarboxilato-2,2’-bipiridina; X= Cl, -OH). El estudio de la señal F 1s permitió evidenciar una banda de alta intensidad ubicada a ≈689,3 eV, la cual hace referencia a flúor correspondiente a especies tipo –CF2– presentes en el teflón1 . Así mismo, el estudio de la señal C 1s permitió evidenciar una banda cercana a 292 eV relacionada al carbono de las especies –CF2–. La presencia de teflón en estos materiales puede ser causada por la acción del solvente empleado (benceno) sobre los diversos accesorios de teflón usados en la preparación de los catalizadores, dentro de los cuales se destaca la cinta de teflón, el agitador magnético y la llave de teflón. 2021-12-21T18:04:05Z 2021-12-21T18:04:05Z 2018-04-11 Documento de Conferencia http://purl.org/coar/resource_type/c_8544 info:eu-repo/semantics/conferenceObject info:eu-repo/semantics/publishedVersion Text http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 http://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/6614 2220 instname:Universidad Pedagogica y Tecnologica de Colombia reponame:Repositorio de la Universidad Pedagogica y Tecnologica de Colombia repourl:https://repositorio.uptc.edu.co/ spa Simposio Colombiano de Catálisis - 2017 https://rdigitales.uptc.edu.co/memorias/index.php/catalasis/catalasis/paper/download/2220/2281 https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ info:eu-repo/semantics/openAccess Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional (CC BY-NC-SA 4.0) http://purl.org/coar/access_right/c_14cb application/pdf application/pdf https://rdigitales.uptc.edu.co/memorias/index.php/catalasis/catalasis/paper/view/2220 |
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