Uso de XPS como herramienta analítica para estudiar la contaminación por teflón en la preparación de catalizadores

Spa: En este trabajo se estudió mediante la Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), la presencia de flúor como contaminante en catalizadores de tipo Mo (VI)O2X24,4'-(Ln) anclado en TiO2 (Ln= dicarboxilato-2,2’-bipiridina; X= Cl, -OH). El estudio de la señal F 1s permitió evidenciar una...

Deskribapen osoa

Xehetasun bibliografikoak

Egile Nagusiak:	Amaya Vesga, Alvaro Andrés, Martínez Ortega, Fernando, Martínez Quiñónez, Henry
Formatua:	Documento de Conferencia
Hizkuntza:	spa
Argitaratua:	2021
Sarrera elektronikoa:	http://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/6614