Uso de XPS como herramienta analítica para estudiar la contaminación por teflón en la preparación de catalizadores
Spa: En este trabajo se estudió mediante la Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), la presencia de flúor como contaminante en catalizadores de tipo Mo (VI)O2X24,4'-(Ln) anclado en TiO2 (Ln= dicarboxilato-2,2’-bipiridina; X= Cl, -OH). El estudio de la señal F 1s permitió evidenciar una...
मुख्य लेखकों: | Amaya Vesga, Alvaro Andrés, Martínez Ortega, Fernando, Martínez Quiñónez, Henry |
---|---|
स्वरूप: | Documento de Conferencia |
भाषा: | spa |
प्रकाशित: |
2021
|
ऑनलाइन पहुंच: | http://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/6614 |
- समान संसाधन
-
Uso de XPS como herramienta analítica para estudiar la contaminación por Teflón en la preparación de catalizadores
द्वारा: Amaya Vesga, Alvaro Andrés, और अन्य
प्रकाशित: (2021) -
Separata sección Filosofía analítica y pragmatismo
द्वारा: Margen Visual, Corporación Artística y Cultural
प्रकाशित: (2020) -
Estudiar el desarrollo discursivo: un enfoque socio-psico-discursivo
द्वारा: Shiro, Martha
प्रकाशित: (2024) -
Cómo estudiar Derecho y no querer morir en el intento
द्वारा: Estepa Rodríguez, Lida Fernanda
प्रकाशित: (2016) -
Captura, preparación y almacenamiento de datos
द्वारा: Daza Leguizamón, Omar Javier, और अन्य
प्रकाशित: (2021)