| Gaia: | Spa: Con el surgimiento de nuevas técnicas de elaboración y el descubrimiento de nuevos compuestos, el rango de aplicación de las películas delgadas presenta un crecimiento acelerado en los últimos años. Por tal razón, es de gran importancia el desarrollo de técnicas de análisis y caracterización que permitan la obtención de magnitudes propias de las mismas, pero que sean difíciles de determinar por medio de medición directa. El principal objetivo de este trabajo es comparar algunas de las técnicas mas usadas, particularmente en la determinación del espesor y el indice de refracción de las películas delgadas mediante mediciones de transmitancia, ya que los métodos existentes restringen su aplicación a un grupo dado de películas delgadas de acuerdo a ciertas propiedades que están de acuerdo con la limitaciones teóricas de los métodos. En el presente estudio se revisan los métodos de [Nenkov], [Bhattacharyya] y [Swanepoel] aplicándolos a diferentes películas y evidenciando su campo de aplicación, ventajas y desventajas.
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