Caracterización Optica de Pelicuals Delgadas
Spa: Con el surgimiento de nuevas técnicas de elaboración y el descubrimiento de nuevos compuestos, el rango de aplicación de las películas delgadas presenta un crecimiento acelerado en los últimos años. Por tal razón, es de gran importancia el desarrollo de técnicas de análisis y caracterización qu...
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| Format: | Documento de Conferencia |
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| Published: |
2021
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| author | Ardila, Angel Miguel García, Diana Marcela Velasco, Ali Mauricio |
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| description | Spa: Con el surgimiento de nuevas técnicas de elaboración y el descubrimiento de nuevos compuestos, el rango de aplicación de las películas delgadas presenta un crecimiento acelerado en los últimos años. Por tal razón, es de gran importancia el desarrollo de técnicas de análisis y caracterización que permitan la obtención de magnitudes propias de las mismas, pero que sean difíciles de determinar por medio de medición directa. El principal objetivo de este trabajo es comparar algunas de las técnicas mas usadas, particularmente en la determinación del espesor y el indice de refracción de las películas delgadas mediante mediciones de transmitancia, ya que los métodos existentes restringen su aplicación a un grupo dado de películas delgadas de acuerdo a ciertas propiedades que están de acuerdo con la limitaciones teóricas de los métodos. En el presente estudio se revisan los métodos de [Nenkov], [Bhattacharyya] y [Swanepoel] aplicándolos a diferentes películas y evidenciando su campo de aplicación, ventajas y desventajas. |
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| id | repositorio.uptc.edu.co-001-7205 |
| institution | Repositorio Institucional UPTC |
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| publishDate | 2021 |
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| spelling | repositorio.uptc.edu.co-001-72052022-08-11T22:39:01Z Caracterización Optica de Pelicuals Delgadas Ardila, Angel Miguel García, Diana Marcela Velasco, Ali Mauricio Spa: Con el surgimiento de nuevas técnicas de elaboración y el descubrimiento de nuevos compuestos, el rango de aplicación de las películas delgadas presenta un crecimiento acelerado en los últimos años. Por tal razón, es de gran importancia el desarrollo de técnicas de análisis y caracterización que permitan la obtención de magnitudes propias de las mismas, pero que sean difíciles de determinar por medio de medición directa. El principal objetivo de este trabajo es comparar algunas de las técnicas mas usadas, particularmente en la determinación del espesor y el indice de refracción de las películas delgadas mediante mediciones de transmitancia, ya que los métodos existentes restringen su aplicación a un grupo dado de películas delgadas de acuerdo a ciertas propiedades que están de acuerdo con la limitaciones teóricas de los métodos. En el presente estudio se revisan los métodos de [Nenkov], [Bhattacharyya] y [Swanepoel] aplicándolos a diferentes películas y evidenciando su campo de aplicación, ventajas y desventajas. 2021-12-21T18:49:06Z 2021-12-21T18:49:06Z 2016-04-08 Documento de Conferencia http://purl.org/coar/resource_type/c_8544 info:eu-repo/semantics/conferenceObject info:eu-repo/semantics/publishedVersion Text http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 http://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/7205 1474 instname:Universidad Pedagogica y Tecnologica de Colombia reponame:Repositorio de la Universidad Pedagogica y Tecnologica de Colombia repourl:https://repositorio.uptc.edu.co/ spa VIII Congreso Internacional de Materiales CIM https://rdigitales.uptc.edu.co/memorias/index.php/cim/cim/paper/download/1474/1553 https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ info:eu-repo/semantics/openAccess Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional (CC BY-NC-SA 4.0) http://purl.org/coar/access_right/c_14cb application/pdf application/pdf https://rdigitales.uptc.edu.co/memorias/index.php/cim/cim/paper/view/1474 |
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