Evaluación de imágenes infrarrojas para muestras patrón de plexiglás, aluminio, acero y titanio: efecto de la emisividad - Cruz Muñoz, Beatriz; Llamosa Rincón, Luis Enrique; Medina Barreto, Milton Humberto; Pinzón Candelario, Manuel; Ramirez Hurtado, Alberto Luis (2021)
Spa: La termografía activa infrarroja por calentamiento mediante escalón de calor (TRIR) es una técnica que permite a través del análisis de las imágenes termográficas obtenidas, cuantificar los defectos superficiales de una superficie de estudio. Para lograr esta cuantificación, la emisividad del blanco y la radiación del entorno deben ser consideradas al momento de capturar una imagen. En este artículo se realizaron capturas de imágenes termográficas con una cámara Fluke Ti-32, sobre muestras patrón de plexiglás, aluminio, acero y titanio; usando la técnica TRIR con un ancho de escalón de 5 minutos. Se registraron imágenes con un tiempo de muestreo de 30 segundos tanto en la etapa de calentamiento como en la etapa de enfriamiento. Los valores de emisividad se variaron entre 0.2 y 1.0 para finalmente poder cuantificar el tamaño de los defectos mediante el procesamiento de las imágenes con Matlab. Las muestras patrón fueron diseñadas de modo tal que se tienen 16 defectos artificiales circulares cuyos diámetros varían entre 4.0 mm y 10.0 mm, y sus profundidades varían entre 0.1 mm y 4.0 mm. Al reducir el valor de la emisividad para todas las muestras, se observó un incremento en la temperatura registrada por la cámara, que generó una ostensible reducción en la cantidad de los defectos detectados. Este comportamiento no solamente está relacionado con la emisividad sino también con el tiempo de calentamiento y de enfriamiento, de modo que las imágenes al inicio del escalón de calor y al final del enfriamiento, describen mayor cantidad de defectos.