Evaluación de imágenes infrarrojas para muestras patrón de plexiglás, aluminio, acero y titanio: efecto de la emisividad
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| Prif Awduron: | , , , , |
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| Fformat: | Documento de Conferencia |
| Iaith: | spa |
| Cyhoeddwyd: |
2021
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| Mynediad Ar-lein: | http://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/7228 |
