Evaluación de imágenes infrarrojas para muestras patrón de plexiglás, aluminio, acero y titanio: efecto de la emisividad
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| Principais autores: | , , , , |
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| Formato: | Documento de Conferencia |
| Idioma: | spa |
| Publicado em: |
2021
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| Acesso em linha: | http://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/7228 |
