| 總結: | Uno de los principales métodos de caracterización de superficies y películas delgadas es el de la microscopía de fuerza atómica, el cual permite obtener la morfología de la superficie desde el rango de los micrómetros y armstrong donde pueden hacerse medidas de tamaño de grano y rugosidad de la superficie, aún bajo ciertas condiciones especiales, el nivel atómico de especial interés en el campo de la nanotecnología. Se hace una introducción a la técnica, se describe su electrónica y funcionamiento. Se amplía el tema de los "cantilevers" y las puntas del equipo, describiendo su estructura, la resolución y la curva de fuerzas debida a las interatómicas implicadas en especial la fuerza de Vander Waals. También se describen algunas de las aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica, que permiten obtener mayor información de la superficie, tales como sus propiedades magnéticas, eléctricas y su dureza. Palabras clave: microscopía de fuerza atómica, cantiléver, punta AFM, nanotecnología.
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