Uso de XPS como herramienta analítica para estudiar la contaminación por teflón en la preparación de catalizadores

Uso de XPS como herramienta analítica para estudiar la contaminación por teflón en la preparación de catalizadores

Ցույց տալ այլ տարբերակներ (1)

Spa: En este trabajo se estudió mediante la Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), la presencia de flúor como contaminante en catalizadores de tipo Mo (VI)O2X24,4'-(Ln) anclado en TiO2 (Ln= dicarboxilato-2,2’-bipiridina; X= Cl, -OH). El estudio de la señal F 1s permitió evidenciar una...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Amaya Vesga, Alvaro Andrés, Martínez Ortega, Fernando, Martínez Quiñónez, Henry
Ձևաչափ: Documento de Conferencia
Լեզու:spa
Հրապարակվել է: 2021
Առցանց հասանելիություն:http://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/6614

Նմանատիպ նյութեր