Uso de XPS como herramienta analítica para estudiar la contaminación por teflón en la preparación de catalizadores
Spa: En este trabajo se estudió mediante la Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), la presencia de flúor como contaminante en catalizadores de tipo Mo (VI)O2X24,4'-(Ln) anclado en TiO2 (Ln= dicarboxilato-2,2’-bipiridina; X= Cl, -OH). El estudio de la señal F 1s permitió evidenciar una...
| Autori principali: | , , |
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| Natura: | Documento de Conferencia |
| Lingua: | spa |
| Pubblicazione: |
2021
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| Accesso online: | http://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/6614 |
