Uso de XPS como herramienta analítica para estudiar la contaminación por teflón en la preparación de catalizadores

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Spa: En este trabajo se estudió mediante la Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), la presencia de flúor como contaminante en catalizadores de tipo Mo (VI)O2X24,4'-(Ln) anclado en TiO2 (Ln= dicarboxilato-2,2’-bipiridina; X= Cl, -OH). El estudio de la señal F 1s permitió evidenciar una...

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Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs: Amaya Vesga, Alvaro Andrés, Martínez Ortega, Fernando, Martínez Quiñónez, Henry
Formaat: Documento de Conferencia
Taal:spa
Gepubliceerd in: 2021
Online toegang:http://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/6614

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