Uso de XPS como herramienta analítica para estudiar la contaminación por teflón en la preparación de catalizadores
Spa: En este trabajo se estudió mediante la Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), la presencia de flúor como contaminante en catalizadores de tipo Mo (VI)O2X24,4'-(Ln) anclado en TiO2 (Ln= dicarboxilato-2,2’-bipiridina; X= Cl, -OH). El estudio de la señal F 1s permitió evidenciar una...
| Những tác giả chính: | , , |
|---|---|
| Định dạng: | Documento de Conferencia |
| Ngôn ngữ: | spa |
| Được phát hành: |
2021
|
| Truy cập trực tuyến: | http://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/6614 |
