Evaluación de imágenes infrarrojas para muestras patrón de plexiglás, aluminio, acero y titanio: efecto de la emisividad
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| Auteurs principaux: | , , , , |
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| Format: | Documento de Conferencia |
| Langue: | spa |
| Publié: |
2021
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| Accès en ligne: | http://repositorio.uptc.edu.co/handle/001/7228 |
