Improvements of the Design Process in the Microwave Transistors Industry

This paper presents a technique to improve the design process of microwave transistors based on two aspects: an improved design of experiment test (DOE), and an electro-thermal enhanced model (MET). The DOE test allowed us to center the design through variations in specific parameters, avoiding comp...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Rafael-Valdivia, Guillermo
বিন্যাস: Online
ভাষা:spa
প্রকাশিত: Universidad Pedagógica y Tecnológica de Colombia 2019
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:https://revistas.uptc.edu.co/index.php/ingenieria/article/view/9784